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卓越质量日本SANKO山高膜厚计 FN-325 両用

FN-325(両用),SANKO膜厚计.关联测定器,SANKO山高, 探测头型号 FN-325 测量方式 电磁式·涡电流式两用(铁·非铁底材自动识别) 测量范围 铁底材:0~3.00mm、非铁底材:0~2.50mm 表示分辨率 1µm:0~999µm的切换(铁&mi

  • 型号: 卓越质量日本SANKO山高膜厚计 FN-325 両用

FN-325(両用),SANKO膜厚计.关联测定器,SANKO山高,
探测头型号
FN-325
测量方式
电磁式·涡电流式两用(铁·非铁底材自动识别)
测量范围
铁底材:0~3.00mm、非铁底材:0~2.50mm
表示分辨率
1µm:0~999µm的切换(铁·非铁共通)
0.1µm:0~400µm(铁·非铁共通)
0.5µm:400~500µm(铁·非铁共通)
0.01mm:1.00~3.00mm(铁底材)
0.01mm:1.00~2.50mm(非铁底材)
测量精度
(平滑表面)
0~100µm::1µm(铁·非铁共通)
或者是指示值的±2%以内
101µm~3.00mm:±2%以内(铁底材)
101µm~2.50mm:±2%以内(非铁底材)
探测部
1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g
选择产品
V形探测头套有3种(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)
附属品
标准校正板、试验用零校正板、(铁用·非铁用)
测量对象
铁底材:铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、
电镀(电解镍除外)等
非铁底材:铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等
一般较普遍的测量物用
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日本SANKO三高,原装正品,价格最优,质量保证!承诺假一赔十!
经营范围:进口光学设备、电子计测仪器、科学仪器、机械加工设备、环境试验设备、PC周边用品、作业工具用品、物流保管用品、化学用品、FA自动化。