卓越质量日本SANKO山高膜厚计 FN-325 両用
FN-325(両用）,SANKO膜厚计.关联测定器,SANKO山高， 探测头型号 FN-325 测量方式 电磁式·涡电流式两用（铁·非铁底材自动识别） 测量范围 铁底材：0～3.00mm、非铁底材：0～2.50mm 表示分辨率 1µm：0～999µm的切换（铁&mi
- 型号： 卓越质量日本SANKO山高膜厚计 FN-325 両用
FN-325(両用）,SANKO膜厚计.关联测定器,SANKO山高，
探测头型号
FN-325
测量方式
电磁式·涡电流式两用（铁·非铁底材自动识别）
测量范围
铁底材：0～3.00mm、非铁底材：0～2.50mm
表示分辨率
1µm：0～999µm的切换（铁·非铁共通）
0.1µm：0～400µm（铁·非铁共通）
0.5µm：400～500µm（铁·非铁共通）
0.01mm:1.00～3.00mm（铁底材）
0.01mm:1.00～2.50mm（非铁底材）
测量精度
（平滑表面）
0～100µm：:1µm（铁·非铁共通）
或者是指示值的±2%以内
101µm～3.00mm:±2%以内（铁底材）
101µm～2.50mm:±2%以内（非铁底材）
探测部
1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g
选择产品
V形探测头套有3种（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）
附属品
标准校正板、试验用零校正板、（铁用·非铁用）
测量对象
铁底材：铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、
电镀（电解镍除外）等
非铁底材：铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等
一般较普遍的测量物用
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